Heutige Messgeräte für die effiziente 3D-Analyse strukturierter Walzenoberflächen sind nicht nur für die präzise Vermessung von Rasternäpfchen geeignet, sondern auch zur Erfassung grober Oberflächenstrukturen, wie sie bei Präge- und Beschichtungswalzen vorkommen. Mit diesen Messmikroskopen können Raster von 6 l/cm bis 80 l/cm sowie Spezialraster wie Haschuren, SteppedHex oder GTT präzise erfasst werden. Die dazugehörigen Softwarelösungen bieten zahlreiche Messmöglichkeiten, darunter Schöpfvolumen, laterale geometrische Abmessungen, Tiefe, Rasterweiten, Dot-Prozent, Profilschnitte und 3D-Ansichten.
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